电子产品可靠性与环境试验杂志创刊于1980年，办刊以来，融指导性、实用性、知识性于一体，发行周期为：双月刊，经过杂志社调整，不断提高了刊物的整体质量，在行业内有一定的影响。
电子产品可靠性与环境试验杂志主要栏目：专家论坛、可靠性物理与失效分析技术、可靠性与环境适应性理论研究、计算机科学与技术、质量管理与产品认证、标准研究、电子、电路设计与应用、总数与展望、可靠性与环境适应性标准信息与行业动态。
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Autotalks推出世界上首款全球V2X解决方案,在其部署就绪的芯片组上整合DSRC和C-V2X
作者：--
基于内存计算技术的人工智能芯片问世
作者：人民网
《电子产品环境与可靠性试验》杂志2012-2013、2017-2018年增刊出版和征订信息
作者：--
Super B与Lithium Wer ks签订电池战略供应协议
作者：本刊讯
米格-35展示“短场起降”能力:未来或上航母
作者：新华网
某LCCC器件焊点失效原因分析及解决措施
作者：吕正; 宋阳
某单片微波集成电路漏电问题分析
作者：钱雨鑫; 汤仕晖; 李进
塑料结构件的质量对继电器可靠性的影响
作者：伍景希; 苏健梅; 张强; 左新浪; 彭博
QFN器件焊接质量及可靠性改善方法的研究
作者：郑佳华; 梅聪; 张龙; 唐文亮; 王旭; 刘路; 张俭
公差设计对高集成度微波收发组件可靠性的影响
作者：魏守明; 顾江川; 张文超; 吴小虎
